MRU-120 Измеритель параметров заземляющих устройств

121 200.00 руб.

MRU-120 Измеритель параметров заземляющих устройств
Основные характеристики:
измерение сопротивления проводников присоединения к земле и выравнивания потенциалов (металлосвязь) (2p);
измерение сопротивления заземляющих устройств по трёхполюсной схеме (3p);
измерение сопротивления заземляющих устройств по четырехполюсной схеме (4p);
измерение сопротивления многократных заземляющих устройств без разрыва цепи заземлителей (с применением токоизмерительных клещей);
измерение сопротивления заземляющих устройств методом двух клещей;
измерение удельного сопротивления грунта методом Веннера с возможностью выбора расстояния между измерительными электродами;
высокая помехоустойчивость;
сохранение результатов измерений в память;
подключение измерителя к компьютеру (USB);
совместимость с программой СОНЭЛ Протоколы;
степень защиты корпуса — IP54.

Артикул: MRU-120 Категория:

Описание

Основные технические характеристики MRU-200

Сокращение «е.м.р.» в определении основной погрешности обозначает «единица младшего разряда»
Сокращение «и.в.» в определении основной погрешности обозначает «измеренная величина»

Измерение напряжении помех UN (RMS)

Диапазон Разрешение Погрешность основная
0…100 В 1 В ± (2% и. в. + 3 е. м. р.)
частота fN 45…65 Гц
частота измерения – минимум два измерения/с
Измерение сопротивления проводников и выравнивания потенциалов (2p)

Диапазон Разрешение Погрешность основная
0,00…19,99 Ом 0,01 Ом ± (2% и. в. + 2 е. м. р.)
20,0…199,9 Ом 0,1 Ом
200…1999 Ом 1 Ом
2,00…9,99 кОм 0,01 кОм ± (2% и. в. + 2 е. м. р.)
10,0…19,9 кОм 0,1 кОм
Измерение сопротивления проводников и выравнивания потенциалов (3p, 4p)

Диапазон Разрешение Погрешность основная
0,00…19,99 Ом 0,01 Ом ± (2% и. в. + 2 е. м. р.)
20,0…199,9 Ом 0,1 Ом
200…1999 Ом 1 Ом
2,00…9,99 кОм 0,01 кОм ± (5% и. в. + 4 е. м. р.)
10,0…19,9 кОм 0,1 кОм
Измерение сопротивления сложных заземляющих устройств с использованием клещей (3p+клещи)

Диапазон Разрешение Погрешность основная
0,00…19,99 Ом 0,01 Ом ± (8% и. в. + 3 е. м. р.)
20,0…199,9 Ом 0,1 Ом
200…1999 Ом 1 Ом
Измерение сопротивления заземляющих устройств методом двух клещей

Диапазон Разрешение Погрешность основная
0,00…19,99 Ом 0,01 Ом ± (10% и. в. + 3 е. м. р.)
20,0…149,9 Ом 0,1 Ом ± (20% и. в. + 3 е. м. р.)
Измерение удельного сопротивления грунта
Измерение согласно методу Веннера, ρ = 2πLRE

Диапазон Разрешение Погрешность основная
0,0…199,9⋅м 0,1 Ом⋅м Зависит от основной
погрешности RE
при измерении методом
4p но не менее ±1 е.м.р.
200…1999 Ом ⋅м 1 Ом⋅м
2,00…19,99 кОм ⋅ м 0,01 кОм⋅м
20,0…99,9 кОм⋅м 0,1 кОм⋅м
100…999 кОм⋅м 1 кОм⋅м
расстояние между измерительными зондами (L): 1…50м
Измерение сопротивления измерительных зондов

Диапазон Разрешение Погрешность основная
0…999 Ом 1 Ом ±5%(RE+RH+RS)+8 е.м.р.
1,00…9,99 кОм 1 кОм
10,0…19,9 кОм 0,1 кОм